2018年我們正式推出了四探針電阻率測量方法，該方法細分為四種，具體包括：器件電阻電源內阻測量、四探針方塊電阻測量、線狀材料電阻率測量、刀型探頭方塊電阻測量。
   在RST系列電化學工作站中，型號為RST5070F和RST5210F的電化學工作站具有四探針電阻率測試方法。四探針電阻率測試方法是檢驗和分析導體和半導體材料質量的一種重要的工具，適用于生產企業、高等院校及各類科研部門。
   該測試方法與電化學工作站中的其他方法一樣，軟件界面友好、參數設置簡單明了。啟動測試后，儀器按設定的參數自動連續采集數據，在屏幕上實時顯示電阻-時間曲線。測試結束后，根據電阻形態參數自動換算成電阻率及電導率，無需人工計算。配備的專用電化學工作站軟件在電腦上運行，可隨時顯示、保存、打印數據和圖形，以備存查。
   本方法的設置參數有：電阻形態及尺寸、探針形狀及間距、激勵電流及可測電阻范圍、預熱時間、樣點間隔、樣點數量、被測器件電動勢等。
   測試工具可根據被測產品及測試項目的要求選購，配置不同的測試工具可滿足不同材料的測試要求。
   本儀器的四探針電阻率測量方法適用于分立電阻、線狀電阻、面狀電阻、塊狀電阻、直流器件內阻。也就是說，可測量導體及半導體材料的軸向電阻率、徑向電阻率、擴散層薄膜電阻率。本儀器具有自動電位扣除功能，因此可測量含源直流器件內阻。